前诺德公司发布ATE测试机全套芯片解决方案，助力半导体测试设备国产化
近日，前诺德公司宣布其旗下多款ATE（自动测试设备）测试机核心芯片已正式面向市场推出。此次发布的产品包括与MAX997*/ADATE31*兼容的2通道PE芯片、与ADATE32*兼容的8通道PE芯片及与MAX994*/AD552*兼容的PMU/DPS芯片等多款产品，标志着我国在半导体测试设备核心芯片领域取得重大突破。
批量订购与样品申请同步启动
本次发布的产品已进入商业化阶段：
●批量订购产品：与MAX997*引脚兼容的2通道PE芯片完成客户验收，现已接受批量订购。
●样品及EVB订购：与ADATE31*兼容的2通道PE芯片、与ADATE32*兼容的8通道PE芯片及与MAX994*兼容的PMU/DPS芯片现已接受样品和评估板（EVB）订购。
此外，前诺德公司还提供各类ATE相关功能芯片，包括Driver、Active Load、Comparator、ADC、DAC、OPAMP、基准电压芯片等，这些芯片均可接受样品及EVB订购。
定制化服务：满足个性化测试需求
针对特定应用场景，前诺德公司推出测试机相关芯片的定制服务，包括PG、TG等FPGA的ASIC硬化定制服务。该服务旨在帮助客户优化测试机性能，降低系统复杂度，提高测试效率，满足不同客户的个性化需求。
产品列表
公司围绕“存储”产业赛道，专注于研发大规模高性能模拟与混合信号集成电路芯片，包括精密测量芯片、驱动芯片、电源管理芯片等，产品覆盖工业、消费、通讯等领域。
公司依托独特的COT工艺以及先进的数字化设计架构，重点推进半导体测试设备（ATE）核心芯片以及新一代内核垂直供电（IVR）芯片两大产品线，其开发的产品属于行业龙头地位，并解决关键核心器件的卡脖子问题，并在相关领域布局多项核心专利。
公司提供面向ATE数字测试设备的全套芯片解决方案，完全兼容国外主流芯片方案，做到P2P管脚替代，可以满足当下主流的Memory ATE测试机和SOC ATE测试机的需求。
公司以面向下一代的IVR垂直供电技术为核心，提供面向各领域的系列芯片解决方案，已经在DDR5内存相关产品上得以应用，并逐步向SOC，光模块，AI，HPC等应用领域延展。
目前客户对象主要集中在半导体设备头部厂商，存储器模组头部厂商，手机及通讯模组头部厂商等。
